測試研發
伴(ban)隨半(ban)導體技(ji)術持續(xu)迅(xun)猛的發展(zhan)和(he)半導(dao)體(ti)應(ying)用領域(yu)不(bu)斷(duan)地(di)拓展，半導體器件種(zhong)類日趨(qu)豐富(fu)。由於(yu)不同應用場景對(dui)半導體器件(jian)的(de)功(gong)能、響應速度(du)需(xu)求(qiu)存(cun)在差(cha)異，因此各類(lei)性能、用(yong)途(tu)的器件或芯(xin)片(pian)大量並(bing)存，各器件的技術(shu)參(can)數、製造(zao)工(gong)藝水平(ping)也不盡(jin)相(xiang)同(tong)，對測(ce)試係統(tong)和測試(shi)能力要(yao)求也越(yue)來越高。華(hua)宇團(tuan)隊憑借(jie)多年豐(feng)富的測試行業經(jing)驗，根據(ju)客戶(hu)芯片測試方案(an)進(jin)行測試可行性評(ping)估和測試軟硬(ying)件的開發，為(wei)客(ke)戶提(ti)供大香蕉视频下载電(dian)路(lu)產品全(quan)生(sheng)命(ming)周(zhou)期的測試技術服務(wu)。
研發(fa)能力(li)
- 根據客戶的芯片測試方(fang)案進行(xing)產(chan)品項目(mu)開發的可行性評估和測試方案軟硬件開(kai)發.
- 開發行業(ye)內(nei)多(duo)種高端測試平台的程序(xu)(比(bi)如(ru)J750/V93K/NI),並實現各(ge)平台(tai)程序之間的軟硬件轉換(huan).
- 具(ju)有指(zhi)紋(wen)識別類、觸(chu)控類、SOC類、32位MCU類、存儲(chu)類、高(gao)清視(shi)頻轉(zhuan)換類、RF射頻類(比如BT/TWS/BLE/5G/UWB/LNA/LORA/ZIGBEE/IOT/NBIOT/FILTER)、工業控(kong)製(zhi)類、智(zhi)能(neng)穿(chuan)戴類、第三代(dai)半導體等諸(zhu)多量(liang)產測試解(jie)決方案.
- 測試程序的多SITE開發, FT 8 SITE已(yi)經量產, CP 256 SITE已(yi)經量產.
- 根(gen)據產品需求進行Load Board和測試治(zhi)具的設計(ji)及製作.
- 具有(you)Prober Card的評估(gu)、設計和製做能力.
- 根據產品的測試需求定(ding)製專用的機械設備和相關的治具.
測試Roadmap
TMS測試管(guan)理(li)係(xi)統
設備(bei)管理
- 探針(zhen)台
- 測試機
- 分選(xuan)機
- 裝(zhuang)盤(pan)機
- 編帶機
- 掃腳機(ji)
數(shu)據分(fen)析
- 測試文件監(jian)控、解析(xi)
- 質量測試數據分析
- 產品測試數據分析
- 良(liang)率(lv)自(zi)動分析
- Tester->STDF
- Prober->MAP
程序管理
- 測試程(cheng)序上傳
- 測試程序審核
- 測試程序下載(zai)
健(jian)康監測
- 設(she)備保(bao)養(yang)
- 設備維(wei)修
- 日常(chang)點檢
- 智能預(yu)警(jing)
運(yun)行監測
- 設備狀(zhuang)態(tai)
- 良率檢(jian)測報(bao)警
- OEE
- OUTPUT
- UPH
