測試解決方案
test solution
測試解決方案
公(gong)司致力(li)於搭(da)建最(zui)適(shi)用(yong)於(yu)客製化需(xu)求的平台並不斷(duan)驗證(zheng)，最終(zhong)形(xing)成解(jie)決(jue)方(fang)案(an)。
目前已(yi)累(lei)計研(yan)發(fa)出(chu) MCU 芯片、ADC 芯片、FPGA 芯片、GPU 芯 片、視(shi)頻(pin)芯(xin)片、射頻芯片(pian)、SoC 芯片、數字信(xin)號處理(li)芯片等超(chao)過 30 種芯片測試(shi)解決方案。
SoC芯片需要處(chu)理的(de)數據(ju)量非常(chang)龐大，芯片引腳多(duo)，向(xiang)量深度(du)大(da)。針(zhen)對該類(lei)芯片的上(shang)述特性(xing)，公司(si)利用數(shu)字(zi)通道(dao)的複用技(ji)術和向量的主(zhu)次(ci)調用技術，再結合數據處理算法，實現(xian)了用測(ce)試機多工位數據全覆(fu)蓋的並(bing)行測試。
HISEMI提(ti)供完善的測試平(ping)台(tai)，以(yi)支(zhi)持(chi)各種(zhong)SoC芯片產(chan)品的測試要求。測試平台詳(xiang)見下(xia)表：
| Vendor | Model | Rate |
| Advantest | V93000 | 200 Mbps ~ 16 Gbps |
| Teradyne | J750/J750EX | 100 MHz /200 MHz |
| YTEC | S100 | 100 MHz |
| Chroma | 3380P | 100 MHz |
| LTX-Credence | D10 | 200Mbps |
公司是國(guo)內(nei)較早進行(xing)指紋識(shi)別(bie)芯片測試方案研究的公司之一，憑借著較強(qiang)的研發能力，已實現電容平麵條形指(zhi)紋芯片、電容(rong)側邊(bian)指紋芯片、電容弧(hu)麵指紋(wen)芯片和光學指紋芯片測試方案的成(cheng)功研發。
HISEMI提供(gong)完(wan)善的測試平台，以支持各種指紋芯片產品的測試要(yao)求。測試平台詳見(jian)下表：
| Vendor | Model | Rate |
| Chroma | 3380P | 100 MHz |
| YTEC | S100 | 100 MHz |
針對(dui)高(gao)速(su)射(she)頻芯片測試主要存在多工(gong)位之間相(xiang)互(hu)幹擾(rao)、測試環(huan)境幹(gan)擾以及(ji)對測試平台和測試電路要求高等問(wen)題，公司采(cai)取對不同(tong)的工位設(she)置不(bu)同的頻段以及對信號(hao)采取屏蔽處理的測試方法，實現了(le)多工位並測，該測試技術具備多種模式下的功(gong)能測試，如載(zai)波模式下的電流測試以及射頻通(tong)信測試等(deng)，通過(guo)測試機(ji)發送相關命(ming)令信號到標(biao)準樣品，通過收(shou)發包(bao)數量(liang)來判(pan)斷好(hao)壞(huai)，再通過異步串口(kou)通訊命令(ling)進行解析(xi)。
HISEMI提供完善的測試平台，以支持各(ge)種射頻芯片產品的測試要求(qiu)。測試平台詳見下表(biao)：
| Vendor | Model | Rate |
| National Instruments | STS T4 | 12.5Gb/s |
| YTEC | S100 | 100 MHz |
| Chroma | 3380P | 100 MHz |
| LitePoint | IQxstream |
HISEMI擁有類型齊(qi)全的測試平台和熟(shu)練的測試工程(cheng)師，為(wei)客(ke)戶(hu)提供模(mo)擬(ni)類產品的測試程序開(kai)發。如(ru)運(yun)放等線性電(dian)路(lu)、功放類電路、馬達驅(qu)動(dong)類電路、電源管(guan)理類電路、收音(yin)機類電路等各類模擬電路的測試程序開發和(he)量產測試。
HISEMI提供多種測試平台，以支持模擬類芯片產品的測試要求。測試平台詳見下表：
| Vendor | Model | The configuration |
| ACCOTEST | STS8200B | FPVI*4,FOVI*4,HVIIK*1,QTMU*1,ACSM*1, DIO*1 |
| TRI | TR6850S | DVC*2,OVC*4,QTMU,AWG,PEB32 |
| ChangChuan | CTA8200 | DVI*1,QVI*1,OVS*1,PVM*1, QTMU*1,HKV*1 |
| Powertech | QT8100 | APU16*2,PVC40*1,PVI1000*1, PMS4*1 |
| HongBang | T862 | DDD*1,DVI*1,HVS*1,OV2*1 |
公司已經(jing)大量測試各種消(xiao)費(fei)類IC，測試主要產品包括(kuo)有：閃(shan)燈(deng)芯片類；音樂(le)芯片類；語音芯片類；鍾(zhong)表芯片類；計算(suan)器芯片類；遙控(kong)器芯片類；電動玩(wan)具編(bian)碼、解碼(ma)、驅動芯片、LED、LCD 驅動芯片等。為客戶提供程序開發及相關技術(shu)服務。
HISEMI提供多種測試平台，以支持大多數消費類芯片產品的測試要求。測試平台詳見下表：
| Vendor | Model | Rate |
| YTEC | S50 | 50 MHz |
| YTEC | S100 | 100 MHz |
| Chroma | 3360D/P | 50 MHz |
| Chroma | 3380D/P | 100 MHz |
| ChengZhi | TQT500/TQT500B | 1 MHz |
| VTT | V7100 | 10 MHz |
公司提供分(fen)立器件測試和程序開發服務。目(mu)前已經涵(han)蓋(gai)包括晶(jing)體管、場(chang)效應管(MOS-FET)、二極管(Diode)、穩(wen)壓管二極管(Zener)、穩壓(ya)管、放電管(TVS)等產品的測試和程序開發。
HISEMI主要有(you)DTS1000測試平台，以支持分立器件(jian)產品的測試要求。測試平台詳見下表：
| Vendor | Model | The configuration |
| JUNO | DTS1000 | 999V,30A |
